{"id":5100,"date":"2014-08-11T21:21:12","date_gmt":"2014-08-11T19:21:12","guid":{"rendered":"http:\/\/hpcfk.de\/?p=5100"},"modified":"2019-09-10T16:56:30","modified_gmt":"2019-09-10T14:56:30","slug":"olympus-auflicht-systemmikroskop-bxfm","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/hpcfk.de\/olympus-auflicht-systemmikroskop-bxfm\/","title":{"rendered":"OLYMPUS Auflicht Systemmikroskop BXFM"},"content":{"rendered":"

F\u00fcr die Analyse von Materialproben und Pr\u00fcfk\u00f6rpern ist die optische Komponente unabdingbar. Mit dem neuen Mikroskop Olympus BXFM wird unsere Laborausstattung sinnvoll erg\u00e4nzt. Das modular aufgebaute Mikroskop erm\u00f6glicht individuelle Anpassung des Messsystems an die unterschiedlichen Aufgaben und ist daher nicht nur von seiner Leistungsf\u00e4higkeit sondern auch in wirtschaftlicher Hinsicht die richtige Wahl. Zu seinen technischen Attributen geh\u00f6rt weiterhin das breite Vergr\u00f6\u00dferungsspektrum von 12,5 bis 1000-fach bei einer Kameraaufl\u00f6sung von 5 Megapixeln. Mit dieser Ausstattung k\u00f6nnen gro\u00dffl\u00e4chige Proben mit Abmessungen bis zu 130 x 85 mm und einer maximalen Probenh\u00f6he von 350 mm auf einem automatischen Verfahr-Tisch zum exakten Anfahren des gew\u00fcnschten Untersuchungsbereichs vermessen werden. Dieser elektrische XY-Tisch ist verbunden mit einem automatischen Stitching, wodurch Aufnahmen von Oberfl\u00e4chen, die gr\u00f6\u00dfer als der Messbereich einer Einzelmessung sind, automatisiert aufgenommen und aneinander gesetzt werden k\u00f6nnen.<\/p>\n

Speziell erlaubt das Mikroskop die Erfassung von Oberfl\u00e4chentopografien in 3D- Aufnahmen, was in Bezug auf die Analyse von Faserverl\u00e4ufen auf gekr\u00fcmmten Bauteiloberfl\u00e4chen oder Schliffbildern bei CFK Proben im Besonderen f\u00fcr uns projektrelevant ist.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

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