OLYMPUS Auflicht Systemmikroskop BXFM

Für die Analyse von Materialproben und Prüfkörpern ist die optische Komponente unabdingbar. Mit dem neuen Mikroskop Olympus BXFM wird unsere Laborausstattung sinnvoll ergänzt. Das modular aufgebaute Mikroskop ermöglicht individuelle Anpassung des Messsystems an die unterschiedlichen Aufgaben und ist daher nicht nur von seiner Leistungsfähigkeit sondern auch in wirtschaftlicher Hinsicht die richtige Wahl. Zu seinen technischen Attributen gehört weiterhin das breite Vergrößerungsspektrum von 12,5 bis 1000-fach bei einer Kameraauflösung von 5 Megapixeln. Mit dieser Ausstattung können großflächige Proben mit Abmessungen bis zu 130 x 85 mm und einer maximalen Probenhöhe von 350 mm auf einem automatischen Verfahr-Tisch zum exakten Anfahren des gewünschten Untersuchungsbereichs vermessen werden. Dieser elektrische XY-Tisch ist verbunden mit einem automatischen Stitching, wodurch Aufnahmen von Oberflächen, die größer als der Messbereich einer Einzelmessung sind, automatisiert aufgenommen und aneinander gesetzt werden können.

Speziell erlaubt das Mikroskop die Erfassung von Oberflächentopografien in 3D- Aufnahmen, was in Bezug auf die Analyse von Faserverläufen auf gekrümmten Bauteiloberflächen oder Schliffbildern bei CFK Proben im Besonderen für uns projektrelevant ist.

Dr. Carsten Schmidt

Geschäftsführer
E-mail: schmidt_c@ifw.uni-hannover.de
Telefonnummer: +49 (0) 4141 77638-11

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